BR3500(图)

BR3500是我公司推出的一种高端半导体分立器件测试系统。该系统充分吸收国外先进测试系统的特点，采用了先进的嵌入式计算机技术和优化结构技术、16位并行A/D和D/A技术、多级开尔文反馈技术、小信号精密测试技术以及现已申报国家技术发明专利的经过验证的功率源和阵列开关结构技术，并选用优质材料制作。在系统设计、选材、工艺、制作、调试、校验等诸多方面与国内现有同类系统相比均有较大突破，从而大大提高了系统的技术性能和可靠性，保证了该系统各项技术性能指标处于国际先进、国内领先的地位。
其特点是：系统功率范围宽、测试品种覆盖面广、测试精度高、电参数测试全、速度快、有良好的重复性和一致性、很高的工作稳定性和可靠性，很强的保护系统和被测器件保护能力。系统软件功能强大、使用灵活方便、操作简单。系统软件稳定可靠、硬件故障率极低，在实际测试应用中各项技术指标均可真实达到手册技术要求。
与BR2500相比，BR3500测试速度更快，精度更高，测试器件种类和参数更全，系统综合技术指标已经达到进口同类高端机技术水平。可以替代进口高端同类产品。
本系统经过陕西国防区域计量站7102校准试验室（电子二十所校准/检测实验室）、中国航天061基地5504校准实验室的校准认定，所有测量值和参数指标均在允许误差范围之内。在2005年申报高新技术产业化扶持基金查新报告中该系统被认为 “与国内现有同类产品相比，技术先进10年以上”。
系统是各厂、所对外购分立器件进行参数测试的优选设备。与国内外现有同类产品相比有独一无二的性价比。
系统支持将阳极电压、电流扩展到5000V、1200A。基极电压、电流扩展到80V、40A。
系统采用方便易学的窗口菜单界面，在PC机窗口提示下，输入被测器件的测试条件，测试人员即可轻松快捷地控制系统，完成填表编程和开发测试程序、测试器件。操作人员不需具备专业计算机编程语言知识就会用 .